電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例解析（廣州,4月23-24日）
【培訓(xùn)日期】2010年4月23-24日
【培訓(xùn)地點(diǎn)】廣州
【培訓(xùn)對(duì)象】電子元器件、電路板或整機(jī)企業(yè)的設(shè)計(jì)工程師、質(zhì)量工程師、工藝工程師、可靠性工程師、失效分析工程師。
【備注說(shuō)明】本培訓(xùn)班全年循環(huán)開(kāi)課，如有需求，歡迎來(lái)電咨詢(xún)！
【課程背景】
電子產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭(zhēng)中提高可靠性，失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭(zhēng)的最有效的工具，通過(guò)對(duì)失效產(chǎn)品的失效分析，診斷失效產(chǎn)品的失效機(jī)理，以失效機(jī)理為引導(dǎo)，進(jìn)一步分析誘發(fā)失效機(jī)理的應(yīng)力，從而診斷引起產(chǎn)品失效的根本原因，最終，從產(chǎn)品失效的根本原因所涉及的因素（如產(chǎn)品的材料、結(jié)構(gòu)、工藝的缺陷，或產(chǎn)品使用不合理）入手，采取有針對(duì)性的措施，徹底消滅產(chǎn)品失效或有效控制產(chǎn)品失效。
【課程概要】
“電子元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例”首先介紹電子產(chǎn)品（包括各種元器件、集成電路、組件等）失效分析的程序和方法，主要的失效分析設(shè)備及其應(yīng)用技巧，以及失效分析中要注意的關(guān)鍵問(wèn)題。然后，通過(guò)典型的失效分析案例展現(xiàn)產(chǎn)品的失效分析中怎樣考慮問(wèn)題、怎樣采用合適的分析手段（分析儀器、設(shè)備），怎樣提取證據(jù)，怎樣識(shí)別各種失效機(jī)理，怎樣對(duì)獲得的各方面的信息、證據(jù)進(jìn)行綜合分析以達(dá)到對(duì)失效產(chǎn)品進(jìn)行準(zhǔn)確診斷的目的。
【課程目的】
“失效分析技術(shù)”讓您系統(tǒng)了解失效的程序與方法，掌握失效分析的各種分析手段（儀器、設(shè)備）；“經(jīng)典案例”讓您掌握電子產(chǎn)品的主要失效模式和失效機(jī)理，掌握失效分析的核心：分析思路，機(jī)理的識(shí)別，分析手段（儀器、設(shè)備）的應(yīng)用技巧。
【課程大綱】
(一)失效分析概論
■ 基本概念
■ 失效分析的定義和作用
■ 失效模式
■ 失效機(jī)理
■ 一些標(biāo)準(zhǔn)對(duì)失效分析的要求
■ 標(biāo)準(zhǔn)和資料
(二)失效分析技術(shù)和設(shè)備
1. 失效分析基本程序
■ 基本方法與程序
■ 失效信息調(diào)查與方案設(shè)計(jì)
■ 非破壞性分析的基本路徑
■ 半破壞性分析的基本路徑
■ 破壞性分析的基本路徑
■ 報(bào)告編制
2. 非破壞性分析的基本路徑
■ 外觀檢查
■ 電參數(shù)測(cè)試分析與模擬應(yīng)力試驗(yàn)
■ 檢漏與PIND
■ X光與掃描聲學(xué)分析
3. 半破壞性分析的基本路徑
■ 開(kāi)封技術(shù)與可動(dòng)微粒收集
■ 內(nèi)部氣氛檢測(cè)(與前項(xiàng)有沖突)
■ 不加電的內(nèi)部檢查(光學(xué).SEM與EDS.微區(qū)成分)
■ 加電的內(nèi)部檢查(微探針.紅外熱像.EMMI光發(fā)射.電壓襯度像.束感生電流像.電子束探針).
4. 破壞性分析的基本路徑
■ 去除鈍化層技術(shù)(濕法.干法)
■ 剖切面技術(shù)及分析(切片)
5. 分析技術(shù)與分析設(shè)備清單
(三)失效分析典型案例
■ 系統(tǒng)設(shè)計(jì)缺陷引起的失效
■ CMOS IC 閂鎖效應(yīng)失效
■ 靜電損傷失效
■ 過(guò)電損傷失效
■ 熱應(yīng)力失效
■ 機(jī)械應(yīng)力損傷失效
■ 電腐蝕失效
■ 污染失效
■ 熱結(jié)構(gòu)缺陷引起過(guò)熱失效
■ 其他缺陷引起的失效
■ 壽命失效
【講師介紹】
李老師，*培訓(xùn)資訊網(wǎng)()資深講師。*賽寶實(shí)驗(yàn)室可靠性研究分析中心高級(jí)工程師，我國(guó)電子產(chǎn)品失效分析領(lǐng)域權(quán)威專(zhuān)家。1984年畢業(yè)于*電子科技*固體器件專(zhuān)業(yè)，一直在工業(yè)和信息化部電子第五研究所從事電子產(chǎn)品可靠性技術(shù)研究工作，曾經(jīng)主持、參加眾多軍用電子元器件可靠性研究課題，多次獲得各級(jí)科研成果獎(jiǎng)項(xiàng)。近10年來(lái)主要從事電子產(chǎn)品失效分析，完成大量元器件失效分析任務(wù)，具有豐富的分析經(jīng)驗(yàn)?，F(xiàn)在是電子產(chǎn)品失效分析項(xiàng)目的項(xiàng)目負(fù)責(zé)人，繼續(xù)承擔(dān)失效分析任務(wù)，并組織失效分析新技術(shù)的研究。服務(wù)過(guò)企業(yè)有：華為、中興集團(tuán)、海爾集團(tuán)、美的集團(tuán)、廈華、飛通、廣東核電等上百家企業(yè)授課，學(xué)員累計(jì)數(shù)千人。
【費(fèi)用及報(bào)名】
1、費(fèi)用：培訓(xùn)費(fèi)2500元（含培訓(xùn)費(fèi)、講義費(fèi)）；如需食宿，會(huì)務(wù)組可統(tǒng)一安排,費(fèi)用自理。
2、：010-63836477 63830994 13810210257 鮑老師
3、報(bào)名流程：電話登記-->填寫(xiě)報(bào)名表-->發(fā)出培訓(xùn)確認(rèn)函
4、備注：如課程已過(guò)期，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)我們的網(wǎng)站，查詢(xún)*課程
5、詳細(xì)資料請(qǐng)?jiān)L問(wèn)*培訓(xùn)資訊網(wǎng)： (每月在*開(kāi)設(shè)四百多門(mén)公開(kāi)課，歡迎報(bào)名學(xué)習(xí))
